Это устройство используется для анализа структуры всех видов металлов и сплавов. Микроскоп может быть широко использован в лабораториях на заводах для проверки качества литья, для проверки сырья и анализа металлографической микроструктуры материала после термической обработки, для контроля работ по поверхностному нанесению покрытий и т.д. Прибор также может быть оснащен фотографическим устройством для получения изображений поверхности в режиме реального времени.

Металлургические микроскопы используются для определения и анализа структуры различных металлических сплавов. Эти микроскопы являются важным инструментом для исследования металлографии. Они могут применяться для исследования качества литья, плавки и высокотемпературной обработки, для тестирования сырья и обработанных материалов и анализа материалов после высокотемпературной обработки. Они являются идеальными инструментами для научных исследований, обучения, производства и подобного применения. Модель 4XC может быть применена для фотографирования иллюстраций для металлографических атласов с выбором специфического прибора для фотографирования.

Микроскоп используется для визуального наблюдения объектов на производстве и в лаборатории в различных областях промышленности, экспертизы, науки и образования 

Назначение средства измерений: блескомеры фотоэлектрические БФ (далее блескомеры) предназначены для измерения блеска при углах освещения/наблюдения 20^o/20^o, 60^o/60^o, 85^o/85^o направленного светового потока поверхности лакокрасочных и эмалированных покрытий, керамики, плёнок, твёрдых пластиков и других поверхностей̆ в видимой̆ области спектра с целью количественной̆ оценки зрительного восприятия человеческим глазом степени блеска указанных покрытий и других поверхностей̆.

Модификации блескомеров (4 типа), применяемые для измерения плоской поверхности с любым уровнем блеска: низкого уровня блеска (матовые поверхности с низкой степенью глянца: бумага, фактурный пластик, лаки soft touch); среднего уровня блеска (полуматовые и полуглянцевые поверхности, в т.ч. пластики и полимеры по ISO 2813) и высокого уровня блеска (поверхности с зеркальным блеском (окрашенный металл), глянец в полиграфии).

Назначение средства измерений: блескомеры фотоэлектрические БФ (далее блескомеры) предназначены для измерения блеска при углах освещения/наблюдения 45^o/45^o направленного светового потока поверхности лакокрасочных и эмалированных покрытий, керамики, плёнок, твёрдых пластиков и других поверхностей̆ в видимой̆ области спектра с целью количественной̆ оценки зрительного восприятия человеческим глазом степени блеска указанных покрытий и других поверхностей̆.

Назначение средства измерений: блескомеры фотоэлектрические БФ (далее блескомеры) предназначены для измерения блеска при углах освещения/наблюдения 60o/60o направленного светового потока поверхности лакокрасочных и эмалированных покрытий, керамики, плёнок, твёрдых пластиков и других поверхностей̆ в видимой̆ области спектра с целью количественной̆ оценки зрительного восприятия человеческим глазом степени блеска указанных покрытий и других поверхностей̆.

Микроскоп металлографический портативный ММП В7 (далее микроскоп) предназначен для визуального наблюдения микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отражённом свете при прямом освещении в светлом поле и поляризованном свете. Вместо окуляра может быть установлена цветная цифровая видеокамера с подключением к компьютеру, которая позволяет производить измерения, делать снимки и выводить изображение на монитор компьютера в режиме реального времени. Также вместо окуляра может быть установлена цифровая зеркальная фотокамера. Питание микроскопа осуществляется от сети переменного тока 220В, а также от встроенного аккумулятора, что даёт возможность использовать прибор на выездах в полевых условиях при отсутствии стационарного источника питания

Изготовитель: ООО "Восток-7" (РФ). Важно: на сегодняшний день ООО "Восток-7" является старейшим отечественным изготовителем микроскопов отсчётных.

Состояние: новое изделие.

Поверка: первичная поверка включена в цену и оформляется перед отправкой заказчику. Сведения о результатах поверки передаются в Федеральный информационный фонд по обеспечению единства измерений (ФИФ ОЕИ) в течение 40 рабочих дней с даты проведения поверки.

Микроскопы отсчётные МПБ (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерения диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бринелля.
Микроскопы предназначены для рассмотрения с увеличением 20, 40, 50, 100 или 200 крат различных предметов и оценочных или точных измерений их линейных размеров. Микроскопы применяются в стационарных и передвижных лабораториях фармацевтической, строительной, химической, аналитической, пищевой, металлургической и других областях промышленности.

Изготовитель: ООО "Восток-7" (РФ). Важно: на сегодняшний день ООО "Восток-7" является старейшим отечественным изготовителем микроскопов отсчётных.

Состояние: новое изделие.

Поверка: первичная поверка включена в цену и оформляется перед отправкой заказчику. Сведения о результатах поверки передаются в Федеральный информационный фонд по обеспечению единства измерений (ФИФ ОЕИ) в течение 40 рабочих дней с даты проведения поверки.

Изготовитель: ООО "Восток-7" (РФ). Важно: на сегодняшний день ООО "Восток-7" является старейшим отечественным изготовителем микроскопов отсчётных.

Состояние: новое изделие.

Поверка: первичная поверка включена в цену и оформляется перед отправкой заказчику. Сведения о результатах поверки передаются в Федеральный информационный фонд по обеспечению единства измерений (ФИФ ОЕИ) в течение 40 рабочих дней с даты проведения поверки.

Установочные (настроечные) меры блеска предназначены для передачи единиц блеска (GU) и самостоятельной настройки по ним (калибровки) пользователем различных приборов для измерения блеска: блескомера, глянец метра, глоссиметра, в конструкции которых предусмотрена такая техническая возможность. Принцип действия мер заключается в сравнении измеренного блескомером значения блеска меры при заданных условиях освещения/наблюдения с номинальным значением, указанным на мере, в результате чего определяется погрешность блескомера.